بررسی ساختار میکروسکوپی کامپوزیت زمینه آلومینیومی به همراه فاز تقویت کننده SiC و ZrO2 تهیه شده به روش اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS)

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

 بررسی ساختار میکروسکوپی کامپوزیت زمینه آلومینیومی به همراه فاز تقویت کننده SiC و ZrO2 تهیه شده به روش اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS) دارای ۱۳ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد بررسی ساختار میکروسکوپی کامپوزیت زمینه آلومینیومی به همراه فاز تقویت کننده SiC و ZrO2 تهیه شده به روش اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS)  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی بررسی ساختار میکروسکوپی کامپوزیت زمینه آلومینیومی به همراه فاز تقویت کننده SiC و ZrO2 تهیه شده به روش اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS)،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن بررسی ساختار میکروسکوپی کامپوزیت زمینه آلومینیومی به همراه فاز تقویت کننده SiC و ZrO2 تهیه شده به روش اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS) :

تعداد صفحات :۱۳

چکیده مقاله:

کامپوزیت های زمینه فلزی یکی از پرکاربرد ترین مواد کامپوزیتی بشمار می آید.آلومینیوم به خاطر داشتن خواصی از جمله چگالی کمو دمای ذوب نسبتا پایین یکی از پرکاربرد ترین فلزات به عنوان فاز زمینه در تهیه کامپوزیت ها استفاده می شود. یکیاز روشهای نوین تهیه یکامپوزیت به روش متالوژی پودر، اسپارک پلاسما سینترینگ (SPS) می باشد.در این مقاله قطعات آلومینیوم خالص وکامپوزیت زمینه آلومینیوم به همراه فاز تقویت کننده زیرکنیا و سیلیکون کارباید به طوری که نمونه حاوی ۲ درصد سیلیکون کارباید و ۲ درصد زیرکنیا،نمونه حاوی ۲ درصد سیلیکون کارباید و ۴ درصد زیرکنیا، نمونه حاوی ۲ درصد سیلیکون کارباید و ۶ درصد زیرکنیا، نمونه حاوی ۴ درصدسیلیکون کارباید و ۲ درصد زیرکنیا و نمونه حاوی ۴ درصد سیلیکون کارباید و ۴ درصد زیرکنیا به روش اسپارک پلاسما سینترینگ بافشار ۴۰ مگاپاسکال در دمای سینترینگ ۴۸۰°C در شرایط خلا ۱۰ مگاپاسکال و نگهداری به مدت ۶ دقیقه در دمای سینترینگ تهیه شده اند.که بررسی نتایج چگالی و درصد تخلخل از نمونه های تهیه شده نشان دهنده کیفیت مناسب کامپوزیت ساخته شده به روش SPS می باشد. تجزیه و تحلیل با استفاده از XRD نشان می دهد که در کامپپوزیت هیچ گونه ناخالصی، شامل اکسید شدن آلومینیوم و تجزیه در مواد تقویت کننده صورت نگرفته است. عکس های میکروسکوپ الکترونی (SEM) نشان از توضیع یکنواخت فاز تقویت کننده در ماتریس و ساختار مناسب کامپوزیت با روش SPS را نشان می دهد.