مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500


در حال بارگذاری
مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500
23 اکتبر 2022
فایل ورد و پاورپوینت
2120
2 بازدید
۷۹,۷۰۰ تومان
خرید

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500 دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله بررسی روند آزمون تراشههای سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500 :

تعداد صفحات:۵

چکیده:

با پیاده سازی کل سیستم بر روی یک تراشه مسائل جدیدی مطرح میشود که یکی از مهمترین آنها آزمون هستههای داخلی تراشه است. این مقاله به بررسی روند آزمون هستههای داخلی سیستمهای تراشه ای (SOCs) برمبنای استاندارد IEEE1500 می پردازد در این راستا ابتدا ساختار پوشش هسته در استاندارد ۱۵۰۰ مورد مطالعه قرار گرفته و سپس راهکارهای انتقال داده آزمون در سیستمهای تراشهاى بررسی میشود. در انتها با انتخاب یک روش مناسب برای انتقال داده آزمون، روند آزمون یک سیستم تراشهاى بر اساس استاندارد IEEE1500 با ارائه نمودار بلوکی تراشه و الگوریتم عمل پوشش به طور کامل مورد بررسی قرار میگیرد

  راهنمای خرید:
  • در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.