مقاله شبیه سازی لغزش زمان بندی و تعیین عوامل موثر بر آن در اسیلاتور های حلقه ای کنترل شده با ولتاژ به روش عددی غیر مونت کارلو

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله شبیه سازی لغزش زمان بندی و تعیین عوامل موثر بر آن در اسیلاتور های حلقه ای کنترل شده با ولتاژ به روش عددی غیر مونت کارلو دارای ۸ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله شبیه سازی لغزش زمان بندی و تعیین عوامل موثر بر آن در اسیلاتور های حلقه ای کنترل شده با ولتاژ به روش عددی غیر مونت کارلو  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله شبیه سازی لغزش زمان بندی و تعیین عوامل موثر بر آن در اسیلاتور های حلقه ای کنترل شده با ولتاژ به روش عددی غیر مونت کارلو،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله شبیه سازی لغزش زمان بندی و تعیین عوامل موثر بر آن در اسیلاتور های حلقه ای کنترل شده با ولتاژ به روش عددی غیر مونت کارلو :

تعداد صفحات:۸

چکیده:

در این مقاله واریانس لغزش زمانبندیناشی از نویز حرارتی ترانزیستورها در یک اسیلاتور حلقه ای حرارتی ترانزیستورها در یک اسیلاتور حلقه ای CMOS شبیه سازی و تغییرات آن نسبت به پارامترهای اساسی مدار اسیلاتور بررسی و راهکار طراحی اسیلاتور حلقه ای با لغزش زمانبندی کم ارایه شده است. بر خلاف روش های مرسوم که
مبتنی بر چگالی طیف توان و یا روش حوزه زمانی مونتکارلو می باشند، در این کار از روش معادلات حالت سیستم و تعیین معادله دیفرانسیل استوکاستیک متغیرهای حالت استفاده شده است. منابع نویز حرارتی ترانزیستورهای MOS با فرایندهای استوکاستیکگوسی سفید با ضرایب متغیر با زمان مدلسازی و واریانس نویز ولتاژ متغیرهای حالت مدار به روش آنالیز عددی بصورت تابعی از زمان محاسبه شده است. واریانس لغزش زمانبندی خروجی از طریق شیب شکل موج خروجی در زمان گذر به واریانس نویز ولتاژ مرتبط شده است. در پایان نتایج شبیه سازی با نتایج آنالیز تحلیلی مقایسه شده که بخوبی با آن مطابقت می کند.