دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور محاسبه خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز- کرونیگ
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
محاسبه خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز- کرونیگ دارای ۸ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد محاسبه خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز- کرونیگ کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی محاسبه خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز- کرونیگ،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن محاسبه خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز- کرونیگ :
تعداد صفحات :۸
چکیده مقاله:
لایه های نازک اکسید روی به روش سل- ژل با سرعت انباشت ۳۶۰۰ دور در دقیقه در دمای اتاق ساخته شدند. بلافاصله بعد از لایه نشانی لایه ها در دمای ۲۰۰C به مدت ۱۰ دقیقه حرارت دیدند. سپس لایه ها به مدت یک ساعت در دمای ۵۰۰C بازپخت شدند. ضرایب بازتاب برای لایه ها با استفاده از دستگاه اسپکتوسکوپی الیپسومتری در زاویه فرود ۷۰ درجه بدست آمدند. خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی از جمله ضریب شکست و ضریب خاموشی به دو روش مختلف اسپکتروسکوپی الیپسومتری و کرامرز کرونیگ محاسبه شد. گاف نواری انرژی نیز برای لایه های تهیه شده بدست آمد.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
