دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس – مسیر
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس – مسیر دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس – مسیر کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس – مسیر،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس – مسیر :
تعداد صفحات:۵
چکیده:
دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس – مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC و مرجع AC تقسیم بندی میشوند باتوجهبه نتایج تحلیل انجام شده اگرچه قابلیت تفکیک پذیری درتداخل سنج سوپرهتروداین سه مودچهاربرابر شده است اما مولفه های جریانی به ۲۱ افزایش یافته است درحالیکه تعداد مولفه های جریانی نوع هتروداین دومودی برابر۱۰ است
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
