مقاله کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن دارای ۱۲ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن :

تعداد صفحات:۱۲
چکیده:
هر چه تکنولوژی VLSI فشردگی بیشتری پیدا می کند، چالش های مهمی در سر راه ساخت، مدل سازی و کارآیی مدارهای مجتمع بوجود می آید. یکی از اصلی ترین مسائل در سر راه پیشبرد پیش بین های قانون مورد بحث ارتباطات داخلی در مقیاس نانو می باشد. ارتباطات داخلی تاثیر گذارتر از ترانزیستور در جریان تکنولوژی می باشد و بر کارایی چیپ ها در آینده غلبه خواهد کرد. در کنار کارآیی های الکتریکی، ویژگی های مکانیکی در مقیاس نانو اهمیت پیدا می کند. سیم ها باید از عهده عکس العمل نشان دادن بر مقابل فشارها بر آمده و به حالت عادی بر گردد. نانو تکنولوژی راه حل های زیادی برای حل مشکلات ارائه می دهد یکی از مهمترین اثرات نانو تکنولوژی ارائه نانو لوله های کربنی می باشد. نانو لوله های کربنی یکی از موارد امیدوار کننده برای جایگزینی ارتباطات داخلی از جنس مس می باشد.آنها تنها ویژگی های انتقال بالستیکی را توسط نیمه رساناها ارائه نمی دهند بلکه همچنین ویژگی مکانیکی بهتری دارند. در این مقاله ما در مورد قابلیت اطمینان داخلی از جنس نانو لوله کربنی و مقایسه با همتای مسی خود تحقیق می کنیم.