مقاله اثر دمای اکسیاسیون لایه های نازک Zn فلزی بر روی رشد نانو سیم های اکسید روی و مشخصه یابی آنها

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله اثر دمای اکسیاسیون لایه های نازک Zn فلزی بر روی رشد نانو سیم های اکسید روی و مشخصه یابی آنها دارای ۱۴ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله اثر دمای اکسیاسیون لایه های نازک Zn فلزی بر روی رشد نانو سیم های اکسید روی و مشخصه یابی آنها  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله اثر دمای اکسیاسیون لایه های نازک Zn فلزی بر روی رشد نانو سیم های اکسید روی و مشخصه یابی آنها،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله اثر دمای اکسیاسیون لایه های نازک Zn فلزی بر روی رشد نانو سیم های اکسید روی و مشخصه یابی آنها :

تعداد صفحات:۱۴

چکیده:

در این پژوهش نانو سیم های اکسید روی با خواص کریستالی بالا با استفاده از اکسیداسیون گرمایی لایه های نازک Zn فلزی رشد داده شدند. فیلم های Zn با ضخامت ۲۵۰ نانو متر با استفاده از تکنیک تبخیر در خلاء بر روی زیرلایه شیشه لایه نشانی گردیدند. جهت رشد نانو سیم های اکسید روی، فیلم های Zn لایه نشانی شده در بازده دمایی ۴۵۰ درجه سانتیگراد تا ۶۵۰ درجه سانتیگراد به مدت یک ساعت تحت اتمسفر هوای خشک با استفاده از یک کوره افقی اکسید شدند. مورفولوژی سطح نمونه ها با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص گردید و نتایج نشان داد که با افزایش دمای اکسیداسیون، ابعاد نانو سیم های اکسید روی افزایش می یابد و فیلم نازک Zn اکسید شده در دمای ۶۰۰ درجه سانتیگراد، دارای بیشترین میزان شکل گیری نانو سیم های اکسید روی می باشد. نتایج حاصل از آنالیز XRD همچنین نشان داد نانو سیم های اکسید روی دارای ساختار ورتسایت با پیک ترجیحی قوی (۰۰۲) اکسید روی می باشد و هیچ پیک اضافه ای ناشی از ناخالصی در طیف پراش اشعه x نمونه ها موجود نمی باشد. اندازه دانه بدست آمده از تحلیل طیف پراش اشعه x نیز نشان داد که با افزایش دمای اکسیداسیون از ۴۵۰ درجه سانتیگراد به ۶۰۰ درجه سانتیگراد، ابعاد نانو سیم های اکسید روی افزایش می یابد. آنالیز EDX از نمونه ها مشخص کرد که اکسیژن و روی با نسبت اتمی ۱ به ۱ بر روی نمونه وجود دارند. طیف فتولومینسانس نانو سیم ها به منظور بررسی خواص اپتیکی نمونه ها اندازه گیری شد و نتایج نشان داد که یک پیک قوی در ۳۷۷nm متناظر با گسیل لبه باند نزدیک و یک پیک پهن در ۵۲۲nm متناظر با گسیل سبز وجود دارد که نشان دهنده کیفیت کریستالی خوب و نقایص ساختاری کم نمونه ها می باشد.