مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف


در حال بارگذاری
مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف
23 اکتبر 2022
فایل ورد و پاورپوینت
2120
2 بازدید
۷۹,۷۰۰ تومان
خرید

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله بررسی خواص اپتیکی الکتریکی و مورفولوژی لایه های نازک اکسید الومینیم لایه نشانی شده به شیوه کندوپاش RF در ضخامتهای مختلف :

تعداد صفحات:۵

چکیده:

لایه های نازک اکسید الومینیم Al2O3) برروی زیرلایه های Silicon(100) نوع P که سطح ان توسط کوره فسفر الاییده شده و نیز شیشه به روش کندوپاش RF در حضور پلاسمای ارگون در ضخامت های مختلف لایه نشانی گردیده و خواص الکتریکی عبور نوری لایه ها در ناحیه مرئی و مورفولوژی سطح بترتیب توسط انالیزهای C-V طیف سنجی UV/VIS/IR میکروسکوپ اسکن کننده الکترون و نوری بررسی شده است نتایج نشان میدهد که با افزایش ضخامت لایه های اکسید الومینیم عبور نوری لایه ها درناحیه مرئی کاهش می یابد و سطح لایه ناهموارتر می شود همچنین ظرفیت ساختار MOS و ثابت دی الکتریک لایه ها نیز با تغییر ضخامت تغییر می کنند.

  راهنمای خرید:
  • در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.