دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله به کارگیری روش هم بستگی در اندازه گیری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی از روی تداخل نگاشت فیزو
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله به کارگیری روش هم بستگی در اندازه گیری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی از روی تداخل نگاشت فیزو دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله به کارگیری روش هم بستگی در اندازه گیری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی از روی تداخل نگاشت فیزو کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله به کارگیری روش هم بستگی در اندازه گیری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی از روی تداخل نگاشت فیزو،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله به کارگیری روش هم بستگی در اندازه گیری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی از روی تداخل نگاشت فیزو :
تعداد صفحات:۵
چکیده:
لایه های اپتیکی نانومتری روی شیشه در خلا تهیه شد. ضخامت آنها به صورت بلادرنگ با بلور کوارتز پایشگری و کنترل می شود و جهت زینه بندی کردن دستگاه، ضخامت لایه ها به روش اپتیکی اندازه گیری شد. به این منظور، تداخل سنج فیزو برای ثبت فریزهای تداخلی ناشی از پله، به کار گرفته شد. سپس در این کار روش جدید و دقیق تر همبستگی، برای یافتن ضخامت لایه های نازک در ابعاد نانومتری معرفی و به کاررفت. ضخامت پله نشانده شده با دو روش میانگین گیری و همبستگی اندازه گیری و نتایج ثبت گردید. دقت بالاتر، کاهش نوفه و امکان ضخامت سنجی لایه های با ضخامت بیش از نیم طول موج، از مزیت های این روش است. همه نتایج در توافق بسیار خوبی با عدد اعلام شده توسط بلور کوارتز هستند.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
