مقاله عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی دارای ۱۶ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی :

تعداد صفحات:۱۶

چکیده:

هدف از این مقاله آشنایی با روش جدید در حوزه آزمایش جریانهای گردابی (Eddy Current )می باشد که به Magnetic optical Imaging یا MOI معروف می باشد ، MOI در واقع یک نوع تصویر برداری مگنتو اپتیکی از جریان های گردابی می باشد .توسط این روش می توان تصاویر واقعی و Real Time از آزمایش جریان های گردابی به دست آورد . با این روش می توان ترکهای خستگی (Fatigue Crack ) سطحی و زیر سطحی و خوردگی های (Corrosions) پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و (Rives) و در ساختارهای fuselage و wing می باشد . با بهره گیری از این روش زمان بازرسی به یک دهم نسبت به روش ET کاهش می یابد . این روش به این گونه است که حضور عیب در منطقه ی تست باعث می شود که جریان های لایه ای صفحه ای از یکنواختی خارج گردند و باعث ایجاد مولفه میدان مغناطیسی عمود برسطح قطعه گردند. این مولفه عمودی میدان مغناطیسی با استفاده از اثر فارادی و با استفاده از سنسور مگنتو اپتیک قابل مشاهده می باشد .