مقاله پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر – خاک رس

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر – خاک رس دارای ۲۰ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر – خاک رس  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر – خاک رس،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر – خاک رس :

تعداد صفحات:۲۰

چکیده:

میزان پخش لایه های سیلیکاتی در ماتریس پلیمری ، برای بررسی خواص این نانو کامپوزیت ها مورد نیاز است . در تحقیق حاضر ، یک روش جدید جهت کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی خاک رس در ماتریس پلیمر ، توسط پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری (TEM) ارائه شده است . در این روش ریال تعیین دقیق ساختارهای مختلف ورقه ای (Exfoliation) ، جایگیری بین لایه ای (Intercalation) و امتزاج ناپذیر (Immiscible) موجود در تصاویر میکروسکوپی عبوری امکان پذیر می باشد . تصاویر TEMمربوط به چندین نمونه نانو کامپوزیت با ساختار ورقه ای ، جایگزین بین لایه ای و امتزاج ناپذیر ، در زمینه های مختلف پلیمری مورد مطالعه قرار گرفت و میزان ورقه ای شدن ، جایگیری بین لایه ای و امتزاج ناپذیری لایه های سیلیکاتی ، مستقل از مقدار این لایه ها ، از طریق پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری تعیین گردید . مشخص شد که نتایج کمی حاصل از این کار با الگوهای پراش پرتوX(XRD) و روش های ارائه شده توسط محققان دیگر ، مطابقت دارد .