مقاله تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن مقاله تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون :

تعداد صفحات:۵

چکیده:

به تهیه لایه های اپتیکی نانومتری شفاف و غیر شفاف پرداختیم دستگاه مورد استفاده قادر به اندازه گیری ضخامت به صورت بلادرنگ با کریستال کوارتز می باشد که جهت زینه بندی کردن آن به اندازه گیری ضخامت لایه ها به روش اپتیکی نیز پرداخته شد لایه های با ضخامت nm30 به صورت پله بر روی زیر لایه شیشه قرار داده شد پله تشکیل شده در مکان یکی از آیینه های تداخل سنج مایکلسون نصب شد و با ثبت جابجایی نقش فرانژهای ایجاد شده بر روی CCD و اندازه گیری جابجایی فرانژها ضخامت پله تشکیل شده بدست آمد که در توافق خوبی با داده ناشی از بلور می باشد