دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله ضخامت سنجی لایه های نازک در حین فرآیند لایه نشانی و تعیین تابع دی الکتریک مختلط به صورت همزمان مبتنی بر زوایای تابش چندگانه بیم های لیزر
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله ضخامت سنجی لایه های نازک در حین فرآیند لایه نشانی و تعیین تابع دی الکتریک مختلط به صورت همزمان مبتنی بر زوایای تابش چندگانه بیم های لیزر دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله ضخامت سنجی لایه های نازک در حین فرآیند لایه نشانی و تعیین تابع دی الکتریک مختلط به صورت همزمان مبتنی بر زوایای تابش چندگانه بیم های لیزر کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله ضخامت سنجی لایه های نازک در حین فرآیند لایه نشانی و تعیین تابع دی الکتریک مختلط به صورت همزمان مبتنی بر زوایای تابش چندگانه بیم های لیزر،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله ضخامت سنجی لایه های نازک در حین فرآیند لایه نشانی و تعیین تابع دی الکتریک مختلط به صورت همزمان مبتنی بر زوایای تابش چندگانه بیم های لیزر :
تعداد صفحات:۵
چکیده:
در این مقاله روشی جهت اندازه گیری تابع دی الکتریک مختلط و ضخامت فیلم های خیلی نازک به صورت همزمان، در طول پروسه لایه نشانی ارائه می شود. برای این منظور دستگاه معادلات شدت نور بازتابیده و عبوری تحلیل گردیده و اجزاء حقیقی و موهومی تابع دی الکتریک و همچنین ضخامت فیلم در حال لایه نشانی بدست می آیند. نتایج عملی توسط یک سیستم طراحی شده برای دریافت بلادرنگ داده های شدت نور، برای لایه نشانی فلز آلومینیوم در دو طول موج لیزر برابر ۶۵۰ نانومتر (نور قرمز روشن) و ۷۸۰ نانومتر (نور مادون قرمز نزدیک) روی بستر شیشه ارائه شده اند.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
