دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع دارای ۱۶ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع :
تعداد صفحات :۱۶
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی ۵۰، ۱۰۰، ۱۷۰ و ۲۵۰ نانومتر، با نرخ انباشت ثابت ۱۰/۰ نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای ۴۰۰ درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک استفاده شدند. خواص اپتیکی آنها با استفاده از طیف سنجی فرابنفش- مرئی در محدوده (۸۰۰-۳۱۰ نانومتر) بررسی شد. همچنین آنالیز عنصری ماده با استفاده از دستگاه انرژی پراکندگی اشعه ایکس (EDS) انجام شد. برای آنالیز داده ها از نرم افزارهای MATLAB، GENXو XPOWDER استفاده شدند. سپس ضخامت واقعی (نانومتر)، چگالی الکترونی متوسط(e/Å3) و ناهمواری (نانومتر) لایه های نازک ITO بدست آمدند. مقادیر گاف انرژی برای ضخامت‌های ۵۰، ۱۰۰، ۱۷۰ و ۲۵۰ نانومتر به ترتیب ۴۷/۳، ۵۸/۳، ۷۱/۳ و ۸۷/۳ الکترون ولت بدست آمدند. نتایج نشان می دهد که با افزایش ضخامت لایه های نازک اندازه متوسط بلورک ها رشد کرده، تراگسیل اپتیکی، جذب و گاف انرژی لایه های نازک به ترتیب کاهش، افزایش، افزایش می یابد.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
