مقاله بررسی عملیات حرارتی برروی خواص لایه های نازک (ITO) سنتز شده طی فرایند اکسیداسیون( Sn(II به (Sn(IV


در حال بارگذاری
23 اکتبر 2022
فایل ورد و پاورپوینت
2120
3 بازدید
۹۷,۷۰۰ تومان
خرید

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

  مقاله بررسی عملیات حرارتی برروی خواص لایه های نازک (ITO) سنتز شده طی فرایند اکسیداسیون( Sn(II به (Sn(IV دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله بررسی عملیات حرارتی برروی خواص لایه های نازک (ITO) سنتز شده طی فرایند اکسیداسیون( Sn(II به (Sn(IV  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی عملیات حرارتی برروی خواص لایه های نازک (ITO) سنتز شده طی فرایند اکسیداسیون( Sn(II به (Sn(IV،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد


بخشی از متن مقاله بررسی عملیات حرارتی برروی خواص لایه های نازک (ITO) سنتز شده طی فرایند اکسیداسیون( Sn(II به (Sn(IV :

تعداد صفحات:۵

چکیده:

دراین مقاله لایه های نازک ITO توسط تکنیک سل – ژل و روش غوطه وری روی شیشه نشانده شدند. اگزالات قلع (II) و نیترات ایندیم و I2 جهت اکسیداسیون قلع (II) به قلع (IV) به عنوان مواد اولیه استفاده شد. جهت بهبود خواص، لایه ها در دماهای مختلف تحت عملیات حرارتی قرار گرفتند. مورفولوژی سطحی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه ی توسط آنالیز های SEM,XRD طیف سنجی، Uv-vis و سیستم چهار ترمینالی مورد بررسی قرار گرفت. طیف XRD لایه ها نشان دهنده ی ساختار بیکس – بایت ITO است. لایه های تهیه شده در دمای ۵۵۰C دارای کمترین میزان مقاومت الکتریکی (۴ ۱۰ ×۴۳W/sq ) و بیشترین میزان عبور نوری در ناحیه ی Uv-vis حدود ۸۷% است.

  راهنمای خرید:
  • در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.