دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله بررسی تغییرات اثر فشار پرس و دمای سینترینگ بر روی خواص الکتریکی وریستورهای ZnO-Pr6 O11 آلایش یافته با Y2O3
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله بررسی تغییرات اثر فشار پرس و دمای سینترینگ بر روی خواص الکتریکی وریستورهای ZnO-Pr6 O11 آلایش یافته با Y2O3 دارای ۵ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله بررسی تغییرات اثر فشار پرس و دمای سینترینگ بر روی خواص الکتریکی وریستورهای ZnO-Pr6 O11 آلایش یافته با Y2O3 کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی تغییرات اثر فشار پرس و دمای سینترینگ بر روی خواص الکتریکی وریستورهای ZnO-Pr6 O11 آلایش یافته با Y2O3،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله بررسی تغییرات اثر فشار پرس و دمای سینترینگ بر روی خواص الکتریکی وریستورهای ZnO-Pr6 O11 آلایش یافته با Y2O3 :
تعداد صفحات:۵
چکیده:
وریستورها نمونه ای از مواد هوشمند هستند. برای ساخت از روش استاندارد سرامیکها و با اکسیدهای پراسئودیمیم ، کبالت ، کروم و ایتریم با میزان آلایش ۰/۵ % تا ۱% مولی ساخته شد. بعد از توزین ترکیب را بصورت همگن آسیاب نموده و در دمای ۷۵۰ درجه سانتیگراد به مدت ۲ ساعت تکلیس کرده و در سه فشار ۳، ۴/۵ و ۶ تن و در دو دمای ۱۳۰۰ و ۱۳۵۰ درجه سانتیگراد سینترکردیم. در نهایت نمونه ها را الکترود گذاری و منحنی I-V آنها را رسم، و با استفاده از آن ولتاژ شکست ، ضریب غیرخطی و جریان نشتی محاسبه نمودیم. افزایش فشار پرس در دمای بازپخت ثابت، ولتاژ شکست ، ضریب غیرخطی و جریان نشتی افزایش می یابند. اما در یک فشار پرس ثابت، افزایش دمای بازپخت باعث افزایش جریان نشتی و کاهش ضریب غیرخطی و ولتاژشکست می شود.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
