دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه دارای ۱۴ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه :
تعداد صفحات:۱۴
چکیده:
با استفاده از دستگاه " پرتابه مگنترون جریان یکسو " در درون پلاسمای آرگون، لایه های بسیار صاف ایریدیم در روی زیر لایه ابر صیقل شده سیلیکا لایه گذاری گردید . اثر پارامترهای روش لایه
گذاری در کیفیت ناهمواری لایه نیز مورد بررسی قرار گرفت . بعلاوه ثابت های اپتیکی لایه با استفاده از بیناب نمائی بیضی سنجی با زاویه متغیر در بازه طول موج فرابنفش تا میان فروسرخ تعیین گردید . همچنین اندازه گیری میزان ناصافی سطح لایه بوسیله میکروسکپی نیروی اتمی انجام گرفت.
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
