دانش رسان |
مرکز علم و دانش کشور مقاله طراحی و پیاده سازی سیستم ریز پردازنده اندازه گیری مشخصه های ورقهای مغناطیسی و نمایش گرافیکی حلقه هیسترزیس B-H
در حال بارگذاری
توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد
مقاله طراحی و پیاده سازی سیستم ریز پردازنده اندازه گیری مشخصه های ورقهای مغناطیسی و نمایش گرافیکی حلقه هیسترزیس B-H دارای ۱۱ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله طراحی و پیاده سازی سیستم ریز پردازنده اندازه گیری مشخصه های ورقهای مغناطیسی و نمایش گرافیکی حلقه هیسترزیس B-H کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله طراحی و پیاده سازی سیستم ریز پردازنده اندازه گیری مشخصه های ورقهای مغناطیسی و نمایش گرافیکی حلقه هیسترزیس B-H،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله طراحی و پیاده سازی سیستم ریز پردازنده اندازه گیری مشخصه های ورقهای مغناطیسی و نمایش گرافیکی حلقه هیسترزیس B-H :
تعداد صفحات:۱۱
چکیده:
با توجه به اهمیت اتلاف انرژی در هسته ماشینهای الکتریکی و ترانسفورماتورها، سازندگان این ماشینها و همچنین تولید کنندگان ورقهای مغناطیسی بطور مداوم در تلاش برای بهینه سازی تولید ات خود می باشند . روش متعارف جهت اندازه گیری مشخصات ورقها استفاده از سیستم استاندارد بین المللی اپستاین می باشد که روش نسبتا مشکلی برای اندازه گیری مشخصات ورقهای مغناطیسی می باشد . این مقاله طراحی و ساخت یک سیستم اندازه گیری دقیق جهت اندازه گیری مشخصات ورقهای مغناطیسی را ارایه می دهد که مشکلات روش اپستاین را برطرف نموده است . اندازه گیریها برخلاف روش اپستاین بر روی یک ورق انجام می گیرد و انجام آزمون بسیار سریع و بدون دردسر خواهد بود . با کمک یک مدار مولد موج دقیق و طراحی یک مدار مغناطیسی مناسب، میدان مغناطیسی تحریک دلخواه به ورق اعمال می گردد و با استفاده از حسگرهای B ,H و مدارات تقویت کننده مناسب و نیز مدار مبدلA/D این سیگنالها گسسته شده، به رایانه داده می شود . در نهایت با کمک نرم افزار و انجام پردازشهای لازم برروی سیگنالهای گسسته شدهH و B مشخصات ورق نمو نه، اندازه گیری می گردد دقت سیستم پیاده سازی شده، که به آن سیستم آزمون تک ورقی گفته می شود برای اندازه گیری تلفات هیسترزیس درحدود۱/۱۱% می باشد. همچنین این سیستم قابلیت اندازه گیری مشخصات ورقهای مغناطیسی در شرایط شار اعوجاجی، همچون تلفات ناشی از هارمونیکها را دارا می باشد
- در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.
